X Ray Metrology in Semiconductor Manufacturing

₺14.690,00
+ ₺1.194,49 Kargo

X Ray Metrology in Semiconductor Manufacturing

Satıcı:
  • product image

₺14.690,00

Stokta kalan sadece 1
+ ₺1.194,49 Kargo

14 Günlük İade Politikası

Ödeme yöntemleri:

Ürün detayları

Ürün detayları

X Ray Metrology in Semiconductor Manufacturing

Emphasizes on practical metrology with real world examples from the semiconductor and magnetics industries. This book discusses the techniques theory and applications of X-ray metrology in semiconductors and other advanced thin films. It covers the essential metrological questions of precision and repeatability absolute accuracy and spot size.
  • Marka: Taylor & Francis Inc
  • Kategoriye Göre: Bilim, Tıp & Doğa
  • Biçim: Hardback
  • Yayın Tarihi: 2022-01-24
  • Dil: English
  • Yazar: X Ray Metrology in Semiconductor Manufacturing
  • Sayfa Sayısı: 296
  • Yayıncı / Etiket: Taylor & Francis Inc
  • Fruugo Kimliği: 525474205-1066668980
  • ISBN: 9780849339288
Teslimat

Teslimat

6 gün içinde kargoya verilir

  • STANDARD: ₺1.194,49 - Arasında teslimat Pzt 16 Kasım 2026–Cum 04 Aralık 2026

Kargo çıkış noktası Birleşik Krallık.

İadeler

İadeler

Sipariş ettiğiniz ürünlerin size bütün ve belirttiğiniz özelliklere göre teslim edilmesi için elimizden gelenin en iyisini yapıyoruz. Fakat, bütün gelmeyen veya siparişiniz ettiğinizden farklı çıkan bir ürünün elinize ulaşması ya da siparişinizden başka bir sebepten ötürü memnun kalmamanız durumunda, siparişi veya siparişe dahil ürünlerden herhangi birini iade edebilir ve ürünler için tam para iadesi alabilirsiniz.

Tam iade politikasını görüntüle