Semiconductor Device and Failure Analysis: Using Photon Emission Microscopy

₺12.290,00
+ ₺1.104,99 Kargo

Semiconductor Device and Failure Analysis: Using Photon Emission Microscopy

  • product image

Semiconductor Device and Failure Analysis: Using Photon Emission Microscopy

Fiyat: ₺12.290,00
Satıcı:
₺12.290,00
+ ₺1.104,99 Kargo

Stokta var

14 Günlük İade Politikası

Ödeme yöntemleri:

Tanım

Semiconductor Device and Failure Analysis: Using Photon Emission Microscopy

Fault detection has become increasingly difficult as integrated circuits become more and more complex. Photon Emission Microscopy (PEM) is a physical failure analysis technique which locates and identifies faults in integrated circuits.
  • Marka: John Wiley & Sons Inc
  • Kategoriye Göre: Bilim, Tıp & Doğa
  • Biçim: Hardback
  • Yayın Tarihi: 2023-05-02
  • Dil: English
  • Yazar: Wai Kin Chim (National University of Singapore)
  • Sayfa Sayısı: 288
  • Yayıncı / Etiket: John Wiley & Sons Inc
  • Fruugo Kimliği: 434363592-911570923
  • ISBN: 9780471492405

Teslimat ve İade

6 gün içinde kargoya verilir

  • STANDARD: ₺1.104,99 - Arasında teslimat Cum 16 Ocak 2026–Per 05 Şubat 2026

Kargo çıkış noktası Birleşik Krallık.

Sipariş ettiğiniz ürünlerin size bütün ve belirttiğiniz özelliklere göre teslim edilmesi için elimizden gelenin en iyisini yapıyoruz. Fakat, bütün gelmeyen veya siparişiniz ettiğinizden farklı çıkan bir ürünün elinize ulaşması ya da siparişinizden başka bir sebepten ötürü memnun kalmamanız durumunda, siparişi veya siparişe dahil ürünlerden herhangi birini iade edebilir ve ürünler için tam para iadesi alabilirsiniz. Tam iade politikasını görüntüle