Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies

₺10.090,00
+ ₺1.795,49 Kargo

Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies

  • product image

Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies

Fiyat: ₺10.090,00
Satıcı:
₺10.090,00
+ ₺1.795,49 Kargo

Stokta var

Biz aşağıdaki ödeme yöntemlerini kabul ediyoruz

Tanım

Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies

This invaluable resource tells the complete story of failure mechanisms from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. Both a text and a reference work for this important area of semiconductor technology it assumes no reliability education or experience.
  • Marka: John Wiley & Sons Inc
  • Kategoriye Göre: Bilgisayar & İnternet
  • Biçim: Hardback
  • Yayın Tarihi: 2023-03-22
  • Dil: English
  • Yazar: Alvin W. Strong (IBM)
  • Sayfa Sayısı: 640
  • Yayıncı / Etiket: John Wiley & Sons Inc
  • Fruugo Kimliği: 434363568-911570901
  • ISBN: 9780471731726

Teslimat ve İade

6 gün içinde kargoya verilir

  • STANDARD: ₺1.795,49 - Arasında teslimat Cum 12 Aralık 2025–Per 01 Ocak 2026

Kargo çıkış noktası Birleşik Krallık.

Sipariş ettiğiniz ürünlerin size bütün ve belirttiğiniz özelliklere göre teslim edilmesi için elimizden gelenin en iyisini yapıyoruz. Fakat, bütün gelmeyen veya siparişiniz ettiğinizden farklı çıkan bir ürünün elinize ulaşması ya da siparişinizden başka bir sebepten ötürü memnun kalmamanız durumunda, siparişi veya siparişe dahil ürünlerden herhangi birini iade edebilir ve ürünler için tam para iadesi alabilirsiniz. Tam iade politikasını görüntüle