Reliability Prediction From Burn-in Data Fit To Reliability Models

₺4.449,00
+ ₺1.494,49 Kargo

Reliability Prediction From Burn-in Data Fit To Reliability Models

Satıcı:
  • product image

₺4.449,00

Stokta var
+ ₺1.494,49 Kargo

14 Günlük İade Politikası

Ödeme yöntemleri:

Ürün detayları

Ürün detayları

Reliability Prediction From Burn-in Data Fit To Reliability Models

Helps You Educate Chip And System Designers On A Method For Accurately Predicting Circuit And System Reliability In Order To Estimate Failures That Will Occur In The Field As A Function Of Operating Conditions At The Chip Level.
  • Marka: Elsevier Inc
  • Kategoriye Göre: Bilgisayar & İnternet
  • Biçim: Paperback
  • Yayın Tarihi: 2014-03-07
  • Dil: English
  • Yazar: Joseph Bernstein
  • Sayfa Sayısı: 108
  • Yayıncı / Etiket: Elsevier Inc
  • Fruugo Kimliği: 550905349-1115583303
  • ISBN: 9780128007471
Teslimat

Teslimat

24 saat içinde kargoya verilir

  • STANDARD: ₺1.494,49 - Arasında teslimat Sal 01 Aralık 2026–Sal 15 Aralık 2026

Kargo çıkış noktası Birleşik Krallık.

İadeler

İadeler

Sipariş ettiğiniz ürünlerin size bütün ve belirttiğiniz özelliklere göre teslim edilmesi için elimizden gelenin en iyisini yapıyoruz. Fakat, bütün gelmeyen veya siparişiniz ettiğinizden farklı çıkan bir ürünün elinize ulaşması ya da siparişinizden başka bir sebepten ötürü memnun kalmamanız durumunda, siparişi veya siparişe dahil ürünlerden herhangi birini iade edebilir ve ürünler için tam para iadesi alabilirsiniz.

Tam iade politikasını görüntüle