Çok yönlü ölçüm için değiştirilebilir yama yuvası tasarımı - İşlev 1: Değiştirilebilir yama yuvası, hem küçük hassas bileşenlerin hem de yüksek performanslı cihazların ölçülmesini sağlar. Bu, küçük parçaların yanı sıra daha büyük, daha zorlu bileşenlere de uyum sağlayan esnek bir platform oluşturur. - İşlev 2: Transistör test cihazı, NPN, triyotlar, MOS, alan etkili transistörler (FET), diyotlar, kapasitörler, dirençler, indüktörler ve daha fazlası dahil olmak üzere yama bileşenlerini ölçmek ve analiz etmek için kullanılabilir. Yaygın elektronik parçalar için kapsamlı test kapsamı sağlar. - İşlev 3: Elektronik bileşen testi için profesyonel araç. Tek bir cihazda test cihazı, ölçüm cihazı ve MOS/NPN ölçüm cihazı görevi görür ve rutin bileşen doğrulama ve analizi için uygundur. - İşlev 4: Akıllı tanımlama. Test cihazı, pin tanımlarının ve parametrelerinin otomatik olarak algılanmasını sağlayarak bileşen modellerini ve özelliklerini hızlı bir şekilde tanımlar. Bu, tahminleri azaltmaya ve iş verimliliğini önemli ölçüde artırmaya yardımcı olur. Kullanım senaryoları - Bir tamir tezgahında - Bir devredeki bilinmeyen transistörleri ve diyotları hızlı bir şekilde tanımlayın, işlevlerini doğrulayın ve doğru yedek parçaları belirleyin. - Prototipleme ve tasarım sırasında - Doğru bileşen davranışını sağlamak için devre doğrulamanın bir parçası olarak dirençlerin, kapasitörlerin, indüktörlerin ve transistörlerin değerlerini ölçün ve doğrulayın. - Kalite kontrol ve denetimde - Gelen parçalar için veya montaj sırasında bileşen kimliğini ve performansını verimli bir şekilde doğrulayarak güvenilir ürün kalitesini destekleyin.