Multi-run Memory Tests For Pattern Sensitive Faults - Ireneusz Mrozek

₺3.799,00
+ ₺1.038,99 Kargo

Multi-run Memory Tests For Pattern Sensitive Faults - Ireneusz Mrozek

Satıcı:
  • product image

₺3.799,00

Stokta var
+ ₺1.038,99 Kargo

14 Günlük İade Politikası

Ödeme yöntemleri:

  • Marka: Unbranded
Ürün detayları

Ürün detayları

Multi-run Memory Tests For Pattern Sensitive Faults - Ireneusz Mrozek

This Book Describes Efficient Techniques For Production Testing As Well As For Periodic Maintenance Testing (specifically In Terms Of Multi-cell Faults) In Modern Semiconductor Memory. The Author Discusses Background Selection And Address Reordering Algorithms In Multi-run Transparent March Testing Processes. Formal Methods For Multi-run Test Generation And Many Solutions To Increase Their Efficiency Are Described In Detail.
  • Marka: Unbranded
  • Kategoriye Göre: Bilim, Tıp & Doğa
  • Biçim: Paperback
  • Yayın Tarihi: 2019-02-01
  • Dil: English
  • Yazar: Ireneusz Mrozek
  • Sayfa Sayısı: 148
  • Yayıncı / Etiket: Springer Nature B.V
  • Fruugo Kimliği: 469761503-983716427
  • ISBN: 9783030081980
Teslimat

Teslimat

24 saat içinde kargoya verilir

  • STANDARD: ₺1.038,99 - Arasında teslimat Cum 06 Kasım 2026–Cum 13 Kasım 2026

Kargo çıkış noktası Birleşik Krallık.

İadeler

İadeler

Sipariş ettiğiniz ürünlerin size bütün ve belirttiğiniz özelliklere göre teslim edilmesi için elimizden gelenin en iyisini yapıyoruz. Fakat, bütün gelmeyen veya siparişiniz ettiğinizden farklı çıkan bir ürünün elinize ulaşması ya da siparişinizden başka bir sebepten ötürü memnun kalmamanız durumunda, siparişi veya siparişe dahil ürünlerden herhangi birini iade edebilir ve ürünler için tam para iadesi alabilirsiniz.

Tam iade politikasını görüntüle