High Resolution X-ray Diffractometry And Topography

₺7.390,00
+ ₺1.488,99 Kargo

High Resolution X-ray Diffractometry And Topography

Satıcı:
  • product image

₺7.390,00

Stokta var
+ ₺1.488,99 Kargo

14 Günlük İade Politikası

Ödeme yöntemleri:

Ürün detayları

Ürün detayları

High Resolution X-ray Diffractometry And Topography

The Rapid Growth In The Applications Of Electronic Materials Has Created An Increasing Demand For Reliable Techniques For Examining And Characterizing These Materials. This Book Explores The Area Of X-ray Diffraction And The Techniques Available For Deployment In Research, Development, And Production. It Maps The Theoretical And Practical Background Necessary To Study Single Crystal Materials Using High Resolution X-ray Diffraction And Topography.
  • Fruugo Kimliği: 550920494-1115598663
  • ISBN: 9780367400637
Teslimat

Teslimat

24 saat içinde kargoya verilir

  • STANDARD: ₺1.488,99 - Arasında teslimat Sal 10 Kasım 2026–Sal 24 Kasım 2026

Kargo çıkış noktası Birleşik Krallık.

İadeler

İadeler

Sipariş ettiğiniz ürünlerin size bütün ve belirttiğiniz özelliklere göre teslim edilmesi için elimizden gelenin en iyisini yapıyoruz. Fakat, bütün gelmeyen veya siparişiniz ettiğinizden farklı çıkan bir ürünün elinize ulaşması ya da siparişinizden başka bir sebepten ötürü memnun kalmamanız durumunda, siparişi veya siparişe dahil ürünlerden herhangi birini iade edebilir ve ürünler için tam para iadesi alabilirsiniz.

Tam iade politikasını görüntüle