Design For Testability Debug And Reliability Next Generation Measures Using F - Sebastian Huhn

₺5.090,00
+ ₺1.034,99 Kargo

Design For Testability Debug And Reliability Next Generation Measures Using F - Sebastian Huhn

Satıcı:
  • product image

₺5.090,00

Stokta var
+ ₺1.034,99 Kargo

14 Günlük İade Politikası

Ödeme yöntemleri:

  • Marka: Unbranded
Ürün detayları

Ürün detayları

Design For Testability Debug And Reliability Next Generation Measures Using F - Sebastian Huhn

This Book Introduces Several Novel Approaches To Pave The Way For The Next Generation Of Integrated Circuits, Which Can Be Successfully And Reliably Integrated, Even In Safety-critical Applications.
  • Marka: Unbranded
  • Kategoriye Göre: Bilim, Tıp & Doğa
  • Biçim: Paperback
  • Yayın Tarihi: 2022-04-20
  • Dil: English
  • Yazar: Sebastian Huhn
  • Sayfa Sayısı: 188
  • Yayıncı / Etiket: Springer Nature B.V
  • Fruugo Kimliği: 469764049-983718967
  • ISBN: 9783030692117
Teslimat

Teslimat

24 saat içinde kargoya verilir

  • STANDARD: ₺1.034,99 - Arasında teslimat Pzt 02 Kasım 2026–Pzt 09 Kasım 2026

Kargo çıkış noktası Birleşik Krallık.

İadeler

İadeler

Sipariş ettiğiniz ürünlerin size bütün ve belirttiğiniz özelliklere göre teslim edilmesi için elimizden gelenin en iyisini yapıyoruz. Fakat, bütün gelmeyen veya siparişiniz ettiğinizden farklı çıkan bir ürünün elinize ulaşması ya da siparişinizden başka bir sebepten ötürü memnun kalmamanız durumunda, siparişi veya siparişe dahil ürünlerden herhangi birini iade edebilir ve ürünler için tam para iadesi alabilirsiniz.

Tam iade politikasını görüntüle